继NAND型闪存之后再次使用硅贯通电极技术
该公司已于2006年4月将硅贯通电极技术应用于NAND型闪存。此次通过将该技术应用于DRAM,与原来采用基于引线焊接(Wirebonding)的MCP(MultiChipPackage)层叠芯片DRAM相比,封装面积减小了15%、厚度减小了50%以上。此前,在要求高速工作的DRAM中应用WSP技术时,存在着再布线会导致数据传输速度降低的问题。该公司表示,通过在DRAM芯片的铝焊盘部分形成贯通电极,解决了这一问题。
业界普遍认为,采用基于引线焊接的MCP难以实现16Gbps的高速数据传输,此次新一代DRAM的正式上市意味着这一极限将被突破。